kadum, Asaad, Wameedh Flayyih, و Fakhrul Rokhani. Reliability Analysis of Multibit Error Correcting Coding and Comparison to Hamming Product Code for On-Chip Interconnect. مجلة الهندسة 26, no. 6 (يونيو 1, 2020): 94-106. تاريخ الوصول أغسطس 17, 2021. https://joe.uobaghdad.edu.iq/index.php/main/article/view/j.eng.2020.06.08.